美国Phenotype Screening公司的植物根系X射线扫描成像分析系统RootViz FS是在美国能源部创新项目资助下研发成功的一套新型、高效率、高精度、非破坏性的测量系统,用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析,可以拍摄根系的立体X射线照片。 | |
这套系统是植物根系研究领域继根视(rhizotron)系统(如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系统)后激动人心的发明。根视系统需要将根取出清洗后,借助扫描仪进行分析,这个过程往往会折断植物的根尖等脆弱部分,而且属于离体分析,不能进行动态监测。而植物根系X射线扫描成像分析系统是非破坏性的原位分析系统,可以全方位分析植物根系所有部分(包括根尖等),并且可以在植物生长的不同阶段对根系的生长进行长期动态监测。这套系统非常适合于研究植物根系对胁迫的动态响应,可对株高高达2.0m,根系深达1.0 m的植株进行分析。 | |
系统特点 | |
l 非入侵性 l 非破坏性 l 高效率 l 高精度 l 信息量大 l 可控条件下长期监测 l 根系生长发育动态研究 l 根系表型研究 |
主要功能 | |
Ø原位、非破坏的研究植物根系 Ø全方位分析植物根系所有部分 Ø长期监测植物根系的生长动态 Ø大容量、高效率、高精度的获取根系信息 | Ø大批量快速筛选根系突变株 Ø完全可控条件下根系的生理、病理研究 Ø植物茎秆的无损检测 Ø植物种子的无损检测 |
技术原理
系统组成
工作流程
应用领域 | |||
应用实例一:根系生长发育的动态监测 | |||
玉米出苗后 40 天的根系动态生长监测 | |||
利用红/蓝立体眼镜可以观看立体效果 | |||
应用实例二:不同品种间根系的差异 | |||
相对较大的角度分布, 相对较短、较粗的根 | 相对较小的角度分布, 相对较长、较细的根 | ||
两种水稻(Ra4993 和 Ra5531)的不同变种间根系的差异,利用植物根系X-光扫描成像分析系统可以容易的进行分析,而传统的洗根后扫描的方法会将根系间的角度差别忽略掉 | |||
利用红/蓝立体眼镜可以观看立体效果 | |||
应用实例三:根系系统分类 | |||
利用肉眼很难区分不同变种的植物根系。而借助植物根系X-光扫描成像分析系统结果,以侧根密度和主根长度为坐标轴得出的散点图,可以对大豆变种的根系进行分类。上图中,多根变种分布于中心线的上部,而正常品种分布于中心线的下部。将这两个品种杂交后,这种方法可用于快速扫描后代的多根特性。 | |||
应用实例四:根系对胁迫响应 | |||
特制培养介质不含营养盐、水分和任何害虫,因此研究人员可方便的添加不同营养盐、水分和害虫进行胁迫响应研究。 | |||
根瘤线虫的计数测量,上图是演示的根瘤随时间的变化而变化的趋势图 | |||
应用实例五:植物茎杆的X光成像研究 | |||
通过低能的X光成像技术可以无损的检测玉米的果穗茎,上图为实际获得的玉米果穗茎的图片 | |||
应用实例六:种子X光成像研究 | |||
无损研究植物种子内部的结构,比较同种不同个体之间的差异,上图为玉米种子成像图片 | |||
应用实例七:棉桃X光成像研究 | |||
通过立体眼镜查看棉桃内部的立体结构,可以分析棉桃内部不同部位的详细信息,上图为棉桃内部立体图片 | |||
主要技术参数 | |||
1.1工作条件: Ø 环境温度:-5~+45℃ Ø 相对湿度:0-80% Ø 适用电源:220-240 VAC 1.2 技术规格与要求: 1.2.1技术规格 1m系统: Ø 主机:1.870(高)x 0.915(长)x 0.610(宽)m Ø X射线发射器 (50 kVp, 钨靶, 光斑直径~35μm,工作强度25kVp,0.3mA) Ø 数码X射线相机 ( 2940 x 2304像素) Ø 植物样品定位系统(垂直方向1m可调,水平方向38cm可调,可360度旋转) Ø X射线防护装置 (内锁和指示灯,中/英文标签) Ø 主控电脑:Win7 64位英文系统,1000 G数据存储,X射线系统控制及图像获取系统 Ø 图形图像分析电脑:Linux Mint 64位操作系统,32G内存,图像处理系统 Ø 速度:平面图≥20株/h;立体图≥15株/h Ø 测量范围:最大根长≤1.0 m;最大植物高度≤2.0m Ø “R”型固定架,45x200x1000 mm培养盆和相应培养介质 Ø “Q”型固定架,45x200x500 mm培养盆和相应培养介质 0.5m系统: Ø 主机: 1.829(高)x 0.915(长)x 0.610(宽)m Ø X射线发射器 (50 kVp, 钨靶, 光斑直径~35μm,工作强度25kVp,0.3mA) Ø 数码X射线相机 ( 2940 x 2304像素) Ø 植物样品定位系统(垂直方向0.5m可调,水平方向38cm可调,可360度旋转) Ø X射线防护装置 (内锁和指示灯,中/英文标签) Ø 主控电脑:Win7 64位英文系统,1000 G数据存储,X射线系统控制及图像获取系统 Ø 图形图像分析电脑:Linux Mint 64位操作系统,32G内存,图像处理系统 Ø 速度:平面图≥20株/h;立体图≥15株/h Ø 测量范围:最大根长≤0.5 m;最大植物高度≤2.0m Ø “Q”型固定架45x200x500 mm培养盆和相应培养介质
1.3 可获取参数 1.3.1 使用ImageJ协助处理图片得到 植物根长、根夹角和根系空间分布图(相对于中心轴)。 1.3.2 Rhizo Traits根系分析软件(选配) Ø 总根长、总投影面积和总体积; Ø 可获取5种以上不同等级根系分布图片以及不同等级根系的根长和投影面积; Ø 不同深度根系分布的位置; Ø 不同深度根系的直径; Ø 不同深度根系分布的密度。 | |||
产地:美国 Phenotype Screening 公司 |
选购指南:
系统 | 功能 | |
1m系统 | 测量范围:最大根长≤1.0 m;最大植物高度≤2.0m | 推荐 |
0.5m系统 | 测量范围:最大根长≤0.5 m;最大植物高度≤2.0m | 可选 |
防护箱 | 带安防开关,安全防护 | 必选 |
培养系统 | “R”型固定架,45x200x1000 mm培养盆和相应培养介质(仅适用于1m系统) “Q”型固定架,45x200x500 mm培养盆和相应培养介质 | 推荐 可选 |
水肥系统 | 恒温,定时灌溉 | 可选 |